1.测试种类：常用TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU、及可编程器件
2.被测芯片脚数：40脚以下
3.测试速度：500KHz/Pin
4.最大输出电流：每引脚100mA
5.测试方法：小规模集成电路（SST）、中规模集成电路（MSI），与标准库比较大规模集成电路（LSI），与自学习库比较
6.提供自建测试的编程语言
7.提供专用电路板元件测试库（由使用者提出）
8.显示方式：图形显示（时序波形）、状态显示
9.V-I特征曲线测试